北检院专注科研测试-助力科技进步
您的位置: 首页 > 材料检测
材料检测   
光掩模试验

光掩模试验

CMA认证科研检测机构

集体所有制研究所

去咨询

原创版权 发布时间:2025-04-16 21:09:22 更新时间:2025-07-22 23:28:49 咨询量:1 来源:材料检测中心

注意:因业务调整,暂不接受个人委托测试,望见谅。

检测信息(部分)

问题:光掩模是什么?主要用途有哪些?

回答:光掩模是微电子制造中的关键元件,由基板与遮光薄膜组成,用于在光刻工艺中转移电路图形至晶圆表面。其应用范围涵盖集成电路、平板显示、MEMS器件等领域。

问题:光掩模检测包含哪些主要内容?

回答:检测主要包括图形尺寸精度、缺陷分析、材料性能测试等,确保其符合工艺要求的透光率、线宽均匀性及缺陷控制标准。

问题:检测周期通常需要多久?

回答:常规检测周期为5-7个工作日,复杂项目或批量检测可能延长至10-15个工作日,具体根据样品数量及检测参数而定。

问题:检测依据的标准有哪些?

回答:主要遵循SEMI P1、ISO 14644等国际标准,同时兼容客户指定的企业内部技术规范。

问题:送检样品需要满足什么条件?

回答:样品需清洁无污染,附带完整工艺参数说明,尺寸符合检测设备载台要求,特殊存储条件需提前声明。

检测项目(部分)

  • 线宽精度:衡量图形边缘与实际设计值的偏差范围
  • 套刻误差:多层掩模间的图形对准精度
  • 透光率:特定波长下的光透过性能
  • 缺陷密度:单位面积内的微粒或图形缺失数量
  • 相位偏移量:相位型掩模的光程差控制
  • 抗反射膜性能:表面反射率的控制水平
  • 热稳定性:高温环境下的尺寸变化率
  • 应力分布:基板材料的内应力均匀性
  • 表面粗糙度:薄膜表面的微观形貌特征
  • 化学耐受性:抗蚀刻液腐蚀能力
  • 图形位置精度:特征图形的坐标定位误差
  • 临界尺寸均匀性:全片线宽一致性
  • 膜层附着力:薄膜与基板的结合强度
  • 粒子污染度:表面吸附微粒的数量统计
  • 折射率均匀性:光学介质的折射一致性
  • 图形保真度:复杂图形的再现精度
  • 环境耐久性:温湿度变化下的性能稳定性
  • 电磁兼容性:抗静电干扰能力
  • 机械强度:抗弯折与抗冲击性能
  • 使用寿命评估:重复曝光后的性能衰减测试

检测范围(部分)

  • 铬版光掩模
  • 相位偏移掩模
  • 二元光学掩模
  • 灰阶光掩模
  • 纳米压印模板
  • X射线掩模
  • 极紫外掩模
  • 柔性光掩模
  • 三维结构掩模
  • 多层级联掩模
  • 嵌入式图形掩模
  • 自对准双图案掩模
  • 光致变色掩模
  • 可编程数字掩模
  • 全息光栅掩模
  • 微透镜阵列掩模
  • 生物芯片模板
  • MEMS专用掩模
  • OLED蒸镀掩模
  • 量子点图案化模板

检测仪器(部分)

  • 激光干涉测量系统
  • 扫描电子显微镜
  • 原子力显微镜
  • 深紫外显微检测仪
  • 相移干涉仪
  • 光谱椭偏仪
  • 自动缺陷检测系统
  • 纳米压痕测试仪
  • 白光共聚焦显微镜
  • X射线荧光光谱仪

检测流程

1、收到客户的检测需求委托。

2、确立检测目标和检测需求

3、所在实验室检测工程师进行报价。

4、客户前期寄样,将样品寄送到相关实验室。

5、工程师对样品进行样品初检、入库以及编号处理。

6、确认检测需求,签定保密协议书,保护客户隐私。

7、成立对应检测小组,为客户安排检测项目及试验。

8、7-15个工作日完成试验,具体日期请依据工程师提供的日期为准。

9、工程师整理检测结果和数据,出具检测报告书。

10、将报告以邮递、传真、电子邮件等方式送至客户手中。

检测实验室(部分)

检测优势

1、综合性检测技术研究院等多项荣誉证书。

2、检测数据库知识储备大,检测经验丰富。

3、检测周期短,检测费用低。

4、可依据客户需求定制试验计划。

5、检测设备齐全,实验室体系完整

6、检测工程师专业知识过硬,检测经验丰富。

7、可以运用36种语言编写MSDS报告服务。

8、多家实验室分支,支持上门取样或寄样检测服务。

结语

以上是关于光掩模试验的检测服务介绍,仅展示了部分检测样品和检测项目,如有其它需求或疑问请咨询在线工程师。

标签:光掩模试验
 
咨询工程师