注意：因业务调整，暂不接受个人委托测试，望见谅。
检测范围
- 金属与合金材料粉末XRD物相分析
- 地质矿物岩石样品物相鉴定
- 无机非金属材料晶型转变分析
- 高分子聚合物结晶度测定
- 纳米材料晶粒尺寸与晶格畸变表征
- 陶瓷材料烧结过程物相演变分析
- 半导体外延薄膜结构与残余应力测试
- 药物活性成分多晶型筛选与鉴定
- 水泥及硅酸盐熟料矿物相定量分析
- 电池正负极材料晶体结构表征
- 催化剂材料物相组成与结晶度分析
- 铁电与压电材料晶体结构解析
- 腐蚀产物与氧化皮物相定性分析
- 焊点与焊缝界面金属间化合物分析
- 耐火材料相组成与高温相变测试
- 珠宝玉石与人工合成宝石物相鉴定
- 古陶瓷与文物胎釉物相考古分析
- 煤及煤灰中无机矿物相分析
- 磷酸钙类骨修复与齿科植入材料物相分析
- 薄膜与涂层材料的择优取向分析
检测标准（部分）
- GB/T 36655-2018 电子封装用球形二氧化硅微粉中α态晶体二氧化硅含量的测试方法 XRD法
- BS ISO 23071:2021 Refractory products. Determination of reduced species in carbon containing refractories by XRD
- ASTM F3419-22 Standard Test Method for Mineral Characterization of Equine Surface Materials by X-Ray Diffraction (XRD) Techniques
- ISO 21068-4:2024 Chemical analysis of raw materials and refractory products containing silicon-carbide, silicon-nitride, silicon-oxynitride and sialon — Part 4: XRD methods
- 20255179-T-469 含碳化硅、氮化硅、氧氮化硅和赛隆耐火材料化学分析方法 第4部分：XRD法
- UNE-EN 12698-2:2007 Chemical analysis of nitride bonded silicon carbide refractories - Part 2: XRD methods
- DIN EN ISO 21068-4:2024-11 Chemical analysis of raw materials and refractory products containing silicon-carbide, silicon-nitride, silicon-oxynitride and sialon - Part 4: XRD methods (ISO 21068-4:2024)
- DIN EN 12698-2:2007-06 Chemical analysis of nitride bonded silicon carbide refractories - Part 2: XRD methods
- ISO 23071:2021 Refractory products — Determination of reduced species in carbon containing refractories by XRD
- DIN EN ISO 21068-4:2023-07 Chemical analysis of raw materials and refractory products containing silicon-carbide, silicon-nitride, silicon-oxynitride and sialon - Part 4: XRD methods (ISO/DIS 21068-4:2023); German and English version prEN ISO 21068-4:2023
- EN 12698-2:2007 Chemical analysis of nitride bonded silicon carbide refractories - Part 2: XRD methods
- BS EN 12698-2:2007 Chemical analysis of nitride bonded silicon carbide refractories-XRD methods
- GB/T 47098-2026 耐火材料 X射线衍射法测定含碳耐火材料中的还原性物质
- GA/T 1422-2017 法庭科学常见火炸药组分检验 X射线衍射法
- ISO 22278:2020 Fine ceramics (advanced ceramics, advanced technical ceramics) — Test method for crystalline quality of single-crystal thin film (wafer) using XRD method with parallel X-ray beam
- GB/T 47625-2026 精细陶瓷 平行光束X射线衍射法测定单晶薄膜（晶圆）结晶质量
- BS ISO 22278:2020 Fine ceramics (advanced ceramics, advanced technical ceramics). Test method for crystalline quality of single-crystal thin film (wafer) using XRD method with parallel X-ray beam
- SN/T 3514-2013 电工钢晶粒取向与无取向鉴定方法 X射线衍射测定织构法
- EN ISO 21068-4:2024 Chemical analysis of raw materials and refractory products containing silicon-carbide, silicon-nitride, silicon-oxynitride and sialon - Part 4: XRD methods (ISO 21068‑4:2024)
常见问题
XRD检测需要多长时间？
通常7-15个工作日，具体时长视样品数量、测试条件复杂度及是否需要原位变温等特殊附件而定。
XRD检测费用大概多少？
根据检测项目数量确定，常规的物相定性分析费用较低，若涉及Rietveld全谱拟合精修或原位高温测试则需根据具体工时与耗材单独核算。
粉末样品和块状样品在制样上有什么区别？
粉末样品通常采用背压法或滴涂法制备以消除择优取向，块状样品则需切割打磨至合适尺寸并保证测试面平整，以避免表面粗糙度影响衍射强度。
检测信息
XRD是一种利用X射线在晶体中的衍射现象来分析材料物相组成、晶体结构和晶胞参数的表征技术，广泛应用于矿物、金属、陶瓷、高分子及药物等固体材料的结构分析。
检测目的在于确定样品的物相组成、结晶度以及晶格畸变状态，涉及X射线发生、衍射光路控制、衍射信号采集与衍射图谱解析等核心技术手段。
检测流程涵盖样品制备、靶材选择、扫描参数设定、衍射数据采集以及通过与标准数据库比对进行物相定性定量分析，核心参数包括2θ扫描范围、步长与管电压管电流。
XRD检测项目
- 物相定性分析，用于鉴定样品中所包含的结晶物相种类，判定材料相组成是否符合预期设计。
- 物相定量分析，通过衍射峰强度比计算各物相的质量分数，评估混合物中目标相的具体含量。
- 结晶度测定，计算结晶区与非晶区散射强度比例，用于判定高分子或非晶合金的有序结构发育程度。
- 晶粒尺寸计算，依据衍射峰半高宽通过谢乐公式推算纳米晶粒尺寸，评估材料微观颗粒维度。
- 晶格常数测定，通过精修衍射峰位计算晶胞参数，用于判断固溶体固溶度或材料点阵畸变状态。
- 宏观残余应力测试，通过测量不同侧倾角下的衍射峰位移，计算材料加工或热处理产生的残余应力。
- 择优取向分析，通过极图或反极图测试分析晶粒取向分布，评估薄膜或拔制材料的各向异性。
- 织构分析，利用取向分布函数表征多晶材料中晶粒的宏观取向分布状态，用于评价板材深冲压性能。
- 晶面间距计算，基于布拉格方程精确计算晶面间距，用于分析晶体内部缺陷或溶质原子嵌入情况。
- 非晶态表征，通过缺失衍射峰及弥散散射环特征判定材料的非晶或玻璃态结构特征。
- 原位变温物相分析，在不同温度条件下实时采集衍射数据，用于研究热致相变动力学过程。
- 原位变气氛相变分析，在通入特定反应气体下测试，用于研究材料在服役环境下的结构演变。
- 多晶型筛选，区分化学组成相同但晶型不同的固体材料，用于药物不同晶型差异评估。
- 晶胞参数精修，采用Rietveld全谱拟合技术精确修正晶体结构参数，用于解析未知晶体结构。
- 原子坐标与占位率测定，通过全谱拟合分析原子在晶胞中的具体位置与占有率，评估晶体结构完整性。
- 结晶相变温度测定，结合变温附件确定相结构转变的临界温度点，用于指导热处理工艺制定。
- 层状结构剥离度评估，通过特征衍射峰位移与强度变化判断插层或剥离结构状态，用于纳米复合材料表征。
- 微观应变计算，通过衍射峰宽化效应分离计算微观应变，用于评估材料内部位错或空位缺陷密度。
- 晶界析出相鉴定，识别晶界处析出的微小第二相结构，用于分析合金时效处理对力学性能的影响。
- 外延薄膜厚度与粗糙度计算，通过X射线反射技术分析临界角与干涉条纹，评估薄膜界面状态。
总结
XRD是利用X射线衍射原理对材料的物相组成、晶体结构和结晶度进行定性与定量分析的表征检测，覆盖金属、矿物、高分子、药物等多领域固体材料。常规检测周期约为7至15个工作日，可满足材料研发与质量管控的数据支撑需求。
相关检测
旗下实验室资质
我司旗下实验室具备CMA资质认定及CNAS认可和ISO认证等证书，具体项目是否在资质认定/实验室认可范围内请与工程师确认。
检测流程
- 接收客户检测需求委托，明确检测目标
- 旗下实验室检测工程师评估并提供报价
- 客户寄送样品，工程师收样、入库并编号
- ��认检测需求，签定保密协议书，保护客户隐私
- 成立对应检测小组，安排检测项目及试验
- 试验周期以双方确认的检测方案为准
- 工程师整理检测结果和数据，出具检测报告书
- 报告以邮递、传真、电子邮件等方式送至客户手中
检测实验室（部分）
检测优势
- 多项资质认证
- 检测数据库知识储备丰富，多年检测经验
- 检测流程规范高效，检测费用合理
- 可依据客户需求定制试验计划
- 检测设备齐全，实验室体系完整
- 检测工程师技术功底扎实，检测经验丰富
- 支持多语种MSDS报告编写服务
- 多家实验室分支，支持上门取样或寄样检测服务
结语
以上是关于XRD检测的检测服务介绍，仅展示了部分检测样品和检测项目，如有其它需求或疑问请咨询在线工程师。
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